超近摄影测量
概述
用于处理小型文物、外形复杂的机械零件及小型物体的变形量测等方面,可以取得正确点位的量测、绘制正射三面图、等值线图及互补色立体像片图等一系列的资料。超近摄影测量是指对物距在0.1一0.01m的目标物进行的摄影测量。
2 扩展释义
用于处理小型文物、外形复杂的机械零件及小型物体的变形量测等方面,可以取得正确点位的量测、绘制正射三面图、等值线图及互补色立体像片图等一系列的资料。超近摄影测量是指对物距在0.1一0.01m的目标物进行的摄影测量。
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本词条最后更新于 2026-07-12 13:42:15