离子显微镜
概述
E.W.弥勒于1951年发明的一种分辨率极高(2～3┱)、能直接用于观察金属表面原子的分析装置，简称FIM。FIM(Field Ion Microscope)是最早达到原子分辨率，也就是最早能看得到原子尺度的显微镜。
2 扩展释义
E.W.弥勒于1951年发明的一种分辨率极高(2～3┱)、能直接用于观察金属表面原子的分析装置，简称FIM。FIM(Field Ion Microscope)是最早达到原子分辨率，也就是最早能看得到原子尺度的显微镜。
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本词条最后更新于 2026-07-15 18:48:20