晶体测量
概述
晶体测量(goniometry)又称“晶体测角”。是指测量晶体各晶面间的夹角以恢复晶体几何形态的一种方法。晶体测量的主要仪器是双圈反射测角仪。
2 扩展释义
晶体测量(goniometry)又称“晶体测角”。是指测量晶体各晶面间的夹角以恢复晶体几何形态的一种方法。晶体测量的主要仪器是双圈反射测角仪。
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本词条最后更新于 2026-07-12 16:15:38
晶体测量(goniometry)又称“晶体测角”。是指测量晶体各晶面间的夹角以恢复晶体几何形态的一种方法。晶体测量的主要仪器是双圈反射测角仪。
晶体测量(goniometry)又称“晶体测角”。是指测量晶体各晶面间的夹角以恢复晶体几何形态的一种方法。晶体测量的主要仪器是双圈反射测角仪。
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